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产品描述
薄膜硅涂布量测试仪YL-X300
离型膜硅涂布量测试仪 越联仪器生产
设备的测试原理:
YL-X300通过软件程序控制,让X射线发生路产生适合的X射线去激发测试薄膜材料中的S或者其他元素,被X射线激发后变为不稳定态,高能层的电子会跃迁到空穴并同时释放特定能量被探测器接收,因每个元素都有自已特定的能量特征线,通过探测器的识别,计算机软件的计算,即可准确识别该元素,并计算出含量。
YL-X300采用了大面积的晶体硅漂移探测器,分辨率能够达到125eV,能分辨A(铝)元素和Si(硅)元素。
设备优势及特点:
1、测试采用 射线荧光光谱原理,测试过程无需耗材;
2、光管垂直照射,硅元素性能得到更强激发;
3、测试下限好,可准确测量0.1g/m的涂硅量;’
4、采用大面积硅漂移探测器,测试结果极其准确;
5、快速采用新的模型算法,大大提高了轻元素的测量稳定性;
6、配置高清液晶显示器,测试过程和测试结果一目了然;
7、设备集成多个usb接口。数据和通讯传输满足多种要求;
8、空气光路的内部环境得到显著优化,大气环境一样可以直接测试;
9、一键测试,操作简单智能,测试过程使用时间更短,结果更准确。
应用方向及领域:
1、各种薄膜、离型膜、淋膜!I等硅油涂布量的测定;
2、各种薄膜生产过程中Si、AI元素等比例量的测定;
3、电子产品S硫化物的残留余量的测定;
4、电子产品保护膜硅油残余量的测定。
尺寸 : | 467×370×336(mm) | 重量 : | 40kg |
适用范围 : | 薄膜、硅油涂布 | 样品腔尺寸 : | 310×248×124(mm) |